本文標(biāo)題："在光學(xué)顯微鏡和立體顯微鏡下分析測定巖石試樣"

在光學(xué)顯微鏡和立體顯微鏡下分析測定巖石試樣

    透射電子顯微鏡觀察所需要的薄片需要特殊的制備工藝，
一般需要用很薄的超薄片，其厚度取決于礦物的吸收系數(shù)和人射電子能。
在100 kV要求的厚度為1一0.3μm。電壓為1 MeV時(shí)，厚度為1μm。

樣品制備過程是先將塊狀樣品切割成薄片，將其一面磨平并
拋光，用光學(xué)樹脂膠(熱熔性膠)將樣品光面粘在載玻片上，研磨至小于0.03 mm左右
的薄片，拋光樣品表面。然后在光學(xué)顯微鏡和立體顯微鏡下，選擇合適的目標(biāo)礦物顆粒。
用環(huán)氧樹脂膠在目標(biāo)樣品上粘一個(gè)透射電鏡專用銅環(huán)。

固化后，在酒精燈火焰上烤熔樣品
和載玻片之間的光學(xué)樹脂膠，取下目標(biāo)樣品。要獲得超薄片最有效的辦法是離子減薄法，
將樣品放人離子減薄儀在高真空的條件下用氫離子轟擊，進(jìn)行離子減薄，直至在樣品中心
穿孔，并出現(xiàn)薄區(qū)。然后鍍上碳膜即可在TEM下對(duì)超薄片或擊穿孔薄片的邊緣部分進(jìn)行
觀察。觀察時(shí)要求迅速快捷，以防電子輻射損傷嚴(yán)重影響圖像

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在光學(xué)顯微鏡和立體顯微鏡下分析測定巖石試樣,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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