本文標題："TEM電子顯微鏡觀察鍍有碳膜或涂碳聚合物膜"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-6-23 19:57:31

TEM電子顯微鏡觀察鍍有碳膜或涂碳聚合物膜

TEM是獲取膠體體系相關信息的一種強有力的技術。人們例行地用它獲取

膠體顆粒大小、形狀、分散度和凝聚情況等信息.它也能夠對內部結構、化學組

成和品體學信息進行分析。在膠體體系的分析中，最關鍵的一步往往是樣品的制

備。

正如上面所提到的，由于儀器設計的原因，對樣品有許多普遍性限制(真空、熱

、光穩定性)。對于TEM分析，進一步的限制針對樣品的維度.樣品通

常由鍍有碳膜或涂碳聚合物膜的3mm直徑的銅微柵網支撐。選擇這樣的支撐膜

是因為碳具有較低的原子雖，且呈非晶態，以便使樣品圖像中信息損失減至最

小.另外，樣品應該盡可能地薄(<1μm)，以便使電子容易通過，并將電子束

對樣品的損傷降至最低。

許多種技術可以用來為TEM分析制備樣品。然而，所有的制樣

步驟都可能給樣品圖像帶來假象。下面通過一些挑選的TEM研究膠體粒子的實

例來重點展示從膠體粒子的簡單分散體可以獲取的信息范圍，以及采用一些間

接制樣方法能夠獲得的附加信息.

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