本文標題："金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-7-27 22:22:30

金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡

要解決該問題，首先要能識別再結晶區的存在。由于再結晶

區的組織結構、彈性模量與未發生再結晶的區域有較大的差異，可

能在兩者界面上產生超聲波的反射，從而可利用反射信號識別再

結晶層并測量其厚度;同時，兩者晶粒尺寸與組織結構的差異也可

能引起超聲散射信號的差異，通過信號處理識別再結晶層的存在。

在可識別再結晶層的情況下，一方面要根據基體和再結晶層組織

結構特點合理制訂檢測工藝，得到準確波形;另一方面，要研究如

何進行信號分析和特征值提取，這兩點是再結晶層超聲無損檢測

的關鍵所在。檢測方法的確定主要考慮如何獲得準確的超聲回波信號。

對于具有再結晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號比較

復雜，不同界面的多次回波互相交錯，甚至疊加，帶來波形識別上

的困難。為此，首先應保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設法

獲得聲束寬度很細的脈沖信號;其次，通過驅動裝置控制探頭的移

動范圍和精度，以便改變聲束焦點的位置，獲得不同深度、不同位

置處的精確回波。

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