本文標題："晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡"

晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡

    雖然晶粒內(nèi)部位錯密度的增加是很重要的加工硬化的來源，
但是我們不可忘記，晶粒邊界也是相當有效的阻止滑動的障礙，

所以也是一種加工硬化的來源。當形變量低時，晶粒邊界硬化占主
導(dǎo)地位，此時晶粒內(nèi)的位錯密度很低，晶粒邊界成為滑動的主要障
礙;當位錯穿過晶粒內(nèi)的位錯林或纏結(jié)越來越難時，

也就是當應(yīng)變量大時，穎拉邊界硬化的相對重要性就降低了。

下面我們將主要考察晶粒邊界的存在如何增加使樣品變形所必需的
應(yīng)力以及這一應(yīng)力(對于一給定的應(yīng)變)與晶粒大小的關(guān)系。
 

后一篇文章：粘結(jié)劑通常是熱塑性聚合物材料-顯微結(jié)構(gòu)均勻 »
前一篇文章：« 金屬機械滲鍍加工常識-金屬零件檢測顯微鏡

tags:技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,

晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：/gxnews/1904.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/