本文標(biāo)題："礦物的物理礦物含量樣品分析圖像顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2019-8-8 1:9:0
礦物的物理礦物含量樣品分析圖像顯微鏡
KIWi是為了把不同深度上的測井響應(yīng)轉(zhuǎn)變?yōu)榈V物含量比例和流體體積
而設(shè)計的一種計算機(jī)程序。用于這個目的的最典型的測井曲線是自然伽瑪
、聲波、密度和中子測井曲線。但是，自然電位、電阻率、自然伽瑪能譜
或其他測井曲線也可能被采用。測井曲線的選擇顯然受到可以得到的測井
曲線的限制。對于定義求解的組分系統(tǒng)的端元礦物的物理性質(zhì)必須作出某
些規(guī)定。其中，各種測井曲線對區(qū)分不同組分的靈敏度是對組分估計值精
度的重要控制。
環(huán)境影響，測量誤差和不精確的深度值是應(yīng)該通過測井曲線的校正和
調(diào)整來處理的問題。這些預(yù)處理工作是在數(shù)據(jù)輸入KIWI程序之前進(jìn)行的。
對于非常規(guī)的測井曲線的應(yīng)用也應(yīng)該慎重考慮。例如，如果電阻率曲線作
為不含泥質(zhì)而含水地層組分分析的一種變量時，它的變化不僅受孔隙體積
的控制，而且受孔隙網(wǎng)絡(luò)的彎曲度的控制。因?yàn)槌绦蛱幚淼氖且粋€線性方
程組，所以在測井曲線與巖石組分變化之間的有效線性關(guān)系必須保證。阿
齊方程規(guī)定孔隙度不是電阻率的線性函數(shù)。但是，這個問題可以通過使用
電導(dǎo)率的，N次根，而不直接用原始的電阻率加以克服。把測井響應(yīng)與組分
變量的關(guān)系線性化的預(yù)處理，對于其他測井曲線也是必要的。
程序要求的輸入內(nèi)容，在執(zhí)行語句之前的說明語句中說得很詳細(xì)。它
們是指被分析的井和層段名稱，測井曲線的數(shù)目、測井曲線的名稱和求解
的組分名稱，以及組分的測井系數(shù)。組分的數(shù)目必須比測井曲線數(shù)目多1。
，
用于分析的測井?dāng)?shù)據(jù)可能是以固定深度增量采樣的數(shù)字化記錄，也可
能是按不規(guī)則間隔讀出的峰、谷特征值。根據(jù)程序現(xiàn)在的形式，要求深度
值為整數(shù)，但是很容易改變成能處理深度值為實(shí)數(shù)的數(shù)據(jù)。設(shè)計的輸出是
在寬行打印機(jī)上。首先打印出井名、地層、測井曲線和組分名稱、以及組
分的測井系數(shù)等等信息。接著列出深度、測井讀數(shù)和求得的組分比例的數(shù)
值表。最后，各層組分在行式打印機(jī)上以字母圖形打出分析層段的剖面圖
。采用的字母和輸出啟動時的鍵一致。當(dāng)輸入是由深度增量為1的數(shù)字化數(shù)
據(jù)組成時，圖的剖面是一個連續(xù)的字母序列。對于深度間隔不規(guī)則的讀數(shù)
，則根據(jù)深度畫出剖面的不同部分，并在夾層部分輸出空白。無論屬于哪
一種情況，通過連接每一種組分字母的序列，都可以畫出組分變化的連續(xù)
跡線。
KIWI程序是用FORTRAN IV寫成的。對于機(jī)器的依賴性已減到最小。重
要的例外是第三句，即‘FORMAT(V)’。這是Honeywell讀自由格式數(shù)據(jù)的
習(xí)慣。大多數(shù)計算機(jī)具有類似的習(xí)慣，但是采用不同的程序語句。
有經(jīng)驗(yàn)的程序員將會看出，KIWI的大部分是和輸入輸出功能有關(guān)的，
只有比較少的幾行是用于數(shù)學(xué)處理的。計算只涉及一個測井系數(shù)矩陣的轉(zhuǎn)
換和從測井讀數(shù)變到組分解的矩陣乘法。現(xiàn)在的六種組分和兩百個測井讀
數(shù)組的上限，通過改變定義的數(shù)組大小和DO循環(huán)語句的整數(shù)，很容易加以
擴(kuò)大。KIWI限于對確定系統(tǒng)求解。然而，通過與第六章敘述的矩陣算法相
結(jié)合，
后一篇文章：孔隙分布的沉積物成巖樣品分析圖像顯微鏡 »
前一篇文章：« 砂巖地層孔隙度碳酸鹽巖樣品分析顯微鏡
tags:精密儀器,技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
礦物的物理礦物含量樣品分析圖像顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/5132.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/