本文標題："在顯微影像模式中，物鏡的成像平面即為中間鏡的物體平面"
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繞射圖形與顯微影像
TEM有兩種基本的操作模式，即繞射圖形模式和顯微影像模式。就裝置上的作用來區(qū)別，在繞射圖形模式中，
物鏡的后聚焦平面(back focal plane)被當作是中間鏡的物體平面，于是繞射點的圖形會被投影到螢?zāi)簧稀?/div>
而在顯微影像模式中，物鏡的成像平面即為中間鏡的物體平面，因此放大的顯微影像會被投影到螢?zāi)簧稀?/div>
兩者的切換則可藉由調(diào)整中間鏡的強度來達成。繞射圖形是TEM中相當重要的資訊，如同X光繞射儀(X-ray diffractometer)的分析原理，
即不同的材料有不同的X光繞射角度。不同材料對于電子經(jīng)過時所造成的繞射角度也有所不同。
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在顯微影像模式中，物鏡的成像平面即為中間鏡的物體平面,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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